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福田 光宏; 奥村 進; 荒川 和夫; 石堀 郁夫; 松村 秋彦*; 唐沢 孝*
Proc. of 11th Symp. on Accelerator Sci. and Technol., p.300 - 301, 1997/00
サイクロトロンの中心領域におけるビームセンタリングエラーの見積り方法を開発した。従来は、複数の半径プローブを用いてビーム軌道中心のズレを測定する方法が一般的であるが、原研AVFサイクロトロンの場合、複数の半径プローブを設置するスペースがなく、唯一全半径を走査できるメインプローブを所有しているだけである。そこで、一次元のビーム電流分布からビームセンタリングエラーを定量化する手法を考案し、実際のビーム電流分布を用いた見積りを試みた。粒子の運動方程式から、メインプローブ方向でのビーム位置を半径方向のベータトロン振動数、1ターン当たりのエネルギー利得、サイクロトロン中心からのビーム軌道中心のズレの強度で表し、加速初期段階の10ターン前後のビーム位置をフィティングすることにより、上記4パラメータを求めた。陽子10MeVのデータから、その解析手法の妥当性が確かめられた。
原田 寛之; 林 直樹
no journal, ,
ベータトロンチューンは、一般的にリング内のビーム位置検出器で検出した時間T秒のビーム重心データを周波数解析し、周回周波数のサイドバンドピークを同定しチューンの小数部を導出している。その測定精度は周波数分解能、つまり1/Tに依存する。高繰り返しのシンクロトロンでは速い加速と共に周回周波数も急激に変化するため、周波数解析に用いるデータ時間Tが制限され、測定精度が向上しない。移動させながらチューンを求め、測定したチューンを移動平均化することで高精度にチューンを求める新たな解析手法を考案し、J-PARCで実証した。従来ビーム入射時に測定したチューン精度は0.013であったが、0.001以下の測定結果となった。これにより加速過程におけるチューンも含めた高精度な光学パラメータの制御が可能となり、大強度出力の礎となった。本講演では新手法の紹介と実測結果を報告する。